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国家仪器公司“构建完整数据采集系统”全国研讨会最近在上海和北京闭幕，吸引了400多名需要测试和测量应用的专业人士。

全天研讨会由ni的高级工程师主持，上午和下午安排了两次会议，以数据采集的硬件和软件为主题，穿插了最新的技术发展分析、现场应用演示以及演讲者和参与者之间的互动交流时间。会议的主要议程包括硬件和软件测试的两个方面:

在基于计算机的数据采集或测量(通常涉及模数转换器)中，即使是有经验的工程师也对硬件规格中的一些常用术语的含义感到困惑，例如精度、分辨率、灵敏度和精度。一个常见的错误是将仪器中模数转换器的分辨率等同于整个仪器的“有效分辨率”。另一个常见的错误是认为分辨率越高，测量结果越好。事实上，根据不同的测量对象和测量要求，仪器的准确度、精度和灵敏度可能更重要。会上，ni工程师澄清了这些误解，并强调了影响整体测量精度的一些关键因素，如增益、失调误差和温度漂移。

测量系统的总成本包括两部分:显性成本和隐性成本。显性成本是指软件和硬件产品的成本。倪最近推出了全新的高性价比硬件系列，并全面下调了E系列数据采集卡的价格。这表明，ni致力于采用最新的技术发展，为用户带来高性能的数据采集硬件，同时尽最大努力为用户着想，节省显性成本。隐性成本是开发成本，包括系统配置、开发时间和校准的投资。因为这些没有清楚的标记，所以经常被用户忽略。倪的软件产品可以帮助工程师和科学家大大提高效率，缩短开发时间，从而降低测试和测量的隐性成本。例如，daqassistant可以通过硬件配置节省时间并生成代码；数据采集驱动程序可以完成自校准。由于显式和隐式成本都降低了，系统的总成本无疑可以满足用户。

基于用户的需求，ni为各个领域的工程师和科学家带来了性价比合理的高精度测量硬件、有助于缩短开发时间的高集成度测量软件以及高质量的专业售后技术支持。