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高功率射频端口扩展了sts、 的功能

可以测试最新的rf前端模块

作为一家致力于为工程师和科学家提供解决方案以应对世界上最严峻的工程挑战的供应商，ni(国家仪器公司，缩写为ni)最近宣布，它为半导体测试系统(sts)增加了全新的射频功能，可以提供更高的收发器功率、实时包络跟踪和基于fpga的数字预失真。

STS最新改进的功能之一是大功率射频端口，它可以帮助射频前端模块制造商满足射频集成电路和其他智能器件日益增长的测试要求，同时降低测试成本。因为射频端口位于与sts完全集成的测试设备中，所以射频测试开发的时间和成本可以大大降低，而不会牺牲测量精度和性能。此外，该集成系统避免了传统自动测试设备(ate)所需的昂贵的螺栓连接射频子系统。

由于越来越多的器件集成到射频前端模块中，并且新的宽带无线标准具有更高的峰均功率比，因此这些器件的制造商需要更高功率的射频测量能力。sts的新射频端口发射功率为+38 dbm，射频盲插接口接收功率为+40 dbm，这是其他商用解决方案所没有的领先能力。此外，sts还配有功能齐全的软件，可在26 ghz进行S参数测量、基于fpga的包络跟踪和基于fpga的数字预失真处理。这些特性使sts成为下一代rfic的理想生产测试解决方案。

“我们继续为射频和混合信号器件制造商提供更智能的解决方案，并不断打破半导体ate的现状，”ni公司半导体测试副总裁ron wolfe说。“sts的开放式模块化体系结构可以帮助用户保持他们的资本投资，同时，他们可以持续使用最新的商业技术，因此他们的测试能力可以满足被测设备不断变化的需求。”

sts于2014年首次推出，为半导体生产测试提供了一种革命性的方法。这种方法基于ni平台和生态系统，可以帮助工程师开发更智能的测试系统。该平台现在包括1 ghz带宽矢量信号收发器、fa电平源测量单元、行业领先的商用现成测试管理软件teststand半导体模块，以及覆盖DC至毫米波范围的600多种pxi产品。该平台采用pci express gen 3总线接口，具有高吞吐量数据传输能力，通过集成时序和触发实现亚纳秒级同步。用户可以利用labview和ni teststand软件的高生产率，以及由合作伙伴、额外的ip和应用工程师组成的充满活力的生态系统，这可以大大降低测试成本和缩短上市时间，并开发展望未来的测试设备，以满足未来的各种严格要求。

如果您想了解更多关于ni的半导体测试产品，请点击原文访问:ni/semiconductor