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2015年6月-第15届全国仪器仪表图形系统设计征文比赛近日正式启动。本次竞赛面向所有使用ni产品的用户，旨在进一步推动中国图形系统设计的发展和应用，使更多的工程师能够更快更好地开发满足特定要求的测量和控制应用。

自2000年以来，该活动已成功举办了14届，得到了ni新老用户的热情支持。每年都有大量优秀的创新应用程序被收集，这使得竞赛获奖的应用程序选集大受欢迎。一旦你正式报名参加活动，你将获得奖励。入围者将有机会获得丰厚的奖金、优质产品升级和培训奖励，并有机会免费参加nidays的技术活动。最终获奖的文章也将发表在权威期刊《中国科学仪器杂志》的增刊上。

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有关比赛的详情，请访问以下网站:china.ni/papercontest2015.