邦纳LH系列高精度激光位移及测厚
本篇文章495字,读完约1分钟
2012年2月17日,博纳参加了在北京举行的第八届中国自动化市场研讨会(2011年)和2011年自动化年度颁奖典礼。在此次颁奖仪式上,美国博纳lh系列高精度激光位移和厚度测量传感器获得了创新产品奖。
博纳销售总监毛兵先生接受了奖杯
在创新产品系列的评选中,博纳lh高精度激光位移(厚度测量)传感器通过了13位自动化行业专家和众多行业用户的审批,分析了其功能特点,结合中国国情诠释了产品的创新价值和后续在市场上的实际应用,并凭借其“三合一”的测量特点获得了创新产品奖。
Banner高精度激光位移(和厚度测量)传感器能够高速稳定工作,无接触,可靠地检测各种检测对象。Lh传感器可以在多达32个lh传感器之间稳定有效地联网,形成一个多点厚度和位移测量网络。一台机器用于三个目的,测距、厚度测量、联网和多点测量(三合一)。无论被测目标是否需要微米级精度,无论被测目标是有光泽还是黑色表面,无论是硬件还是软件,高速、高精度、非接触式lh测量传感器都能为用户提供可靠、稳定的解决方案。
了解更多关于美国邦纳公司的产品和应用,
请登录:bannerengineering
关注博纳微博:微博/中国版
上一篇:热烈庆祝深圳市西林电气哈尔滨、
下一篇:重拳出击,震撼“陶都”——记沈
特别声明:本站的所有文章版权均属于自动化网,未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用上述作品,已经本网授权的文章,应在授权领域内应用,并注明来源为:“自动化网”。。
标题:邦纳LH系列高精度激光位移及测厚 地址:http://www.mingkongzdh.com/article/14001.html